展示会情報 画像センシング展2012　出展致します。 2012年6月6日(水）〜8日（金）パシフィコ横浜（展示ホールD）にて開催致します。 第41回 インターネプコン ジャパン　エレクトロニクス 製造・実装技術展 2012年1月18日(水）〜20日（金）東京ビッグサイトにて開催致しました。 多数の方のご来場有難うございました。 nano tech 2012 第11回 国際ナノテクノロジー総合展・技術会議 2012年2月15日（水）〜17日（金）東京ビッグサイトにて開催致しました。 多数の方のご来場有難うございました。 製品情報 新製品 ＡＦ・ミクロン深さ高さ測定機 製品詳細追加 表裏両面観察装置 光切断測定機 光切断方式による非接触Z軸測定機です。膜厚測定、バリ・カエリの測定、シール剤測定表面粗さ検査、金型測定、ガラス間隙測定等々、さまざまな用途に対応できます。 特殊光学系 弊社は特注光学機器の製作を得意としております。ご要望通りの観察・測定環境に即した光学系をレンズ製作やユニット設計から対応できます。 製品例：　L型顕微鏡、イメージスコープ、テレマイクロスコープ、長焦点スコープ等々。 特注光学装置 特殊光学系を使ったさまざまな顕微鏡・測定機を製作した実績がございます。用途に応じたカスタマイズも迅速かつ経済的に対応できます。 製品例：　２視野顕微鏡、２重焦点鏡、２段倍率鏡、両面観察装置、振幅測定機、曲率測定機等々。 実体顕微鏡 ズームステレオ顕微鏡、ミニステレオ顕微鏡を中心にいろいろなバリエーションをご用意しております。全て国内の自社製造で、１台１台厳正に調整・検査した後に出荷しております。 Copyright © Nisshooptical CO.,LTD. All Rights Reserved.